中古 蛍光X線膜厚計 SFT9200 販売中
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SII/エスアイアイ・ナノテクノロジー製の中古蛍光X線膜厚計 SFT9200シリーズを販売中です。めっき膜厚測定、金属分析、薄膜FP法、薄膜検量線法に対応した蛍光X線膜厚計をお探しの方はご相談ください。中古装置の販売だけでなく、修理・保守・点検にも対応しています。
販売価格：240万円（納品費用等すべて含まれております。）1年間保証及び50日間スライド保証付き。
弊社の販売する装置は全てメーカーの出荷基準を満たしております。
弊社の販売する中古装置は少なくとも10年間、目標としましては30年間の修理・メンテナンスを構築中です。
本装置は所有されていた企業様の閉鎖により放出された装置です。不具合は皆無でした。
X線管球使用時間は7470.2時間です。SFT9200シリーズのX線管球の平均寿命は経験的に40,000時間と長寿命です。
アプリケーション選択画面です。
1.定性分析：Ｔｉより重い物質の定性分析、強度測定等を行います。
2.ルーチン測定：レシピを作成することで、メッキ膜厚や成分比の自動測定・自動結果出力等を行います。
3.バルクＦＰ：メッキ液、合金、粉体等の成分比測定をＦＰ法にて行います。
4.バルク検量線：メッキ液、合金、粉体等の成分比測定を検量線法にて行います。
5.薄膜ＦＰ：メッキ膜厚測定をＦＰ法にて行います。
6.薄膜検量線：メッキ膜厚測定を検量線法にて行います。
7.保守：測定ヘッドテスト、安定性試験、校正基準値登録、校正値グラフ表示等を実施します。
8.データ処理：測定結果をエクセル等にて処理する時に使用します。
標準箔Ni:4.81μm Cu:5.22μmを使用して薄膜FP法で Ni/Cu/Fe の測定を行いました。（連続100回）
コリメータサイズ：0.2mmφ
測定時間：10秒
測定結果
平均値：Ni：4.89μm Cu：5.07μm
CV値 ：Ni：1.1047％ Cu：1.1666％
（Ni/Cu/Feは全てのスペクトルが重なって1本のスペクトルになるので、従来の方法ではCoフィルターを使用して測定時間が2倍にならざるを得ませんでしたが、 優秀なニューメリカルフィルターを使用することでコリメータサイズ0.2mmφであるにも拘わらず上記のCV値を得られました。）
1年間保証及び50日間スライド保証付き（50日間スライド保証とは1年間保証が終了した翌日から1日経過毎に修理費用の2％をご負担いただくシステムです。例えば販売後1年と20日経過している場合は、修理費用の40％をご負担いただきます。50日以降は修理費用の100％をご負担いただきます。）
中古装置は一般的に長期休眠していることが殆どですが、休眠装置はその時立ち上がってもその測定精度や機能が安定せず、結局「安物買いの銭失い」になることも珍しくありません。保証の有無は極めて重要です。
また、少なくとも10年間の保守サポートを保証いたします。（日本国内限定）（目標としましては30年間の修理・メンテナンスを構築中です。）
検収条件：メーカーのうたう測定精度、機能を満足していることは言うまでもありませんが、お客様の希望されるアプリケーションでの検収をご希望される場合は、そのアプリケーションにて検収を実施させて頂きます。
ワンポイントアドバイス：中古蛍光Ｘ線膜厚計の購入に際して留意する点の一つに、その装置がどのような事情で中古市場に出されたのかということがあります。メッキ会社やメッキ事業が閉鎖になって放出された装置で、長期在庫でない装置は「良品」であることが多いです。反対に、メッキ会社やメッキ事業が継続されているにも拘わらず放出された装置で、特に現行機は「訳あり品」であることが多いです。
詳細は、有限会社テスラ電子技研までご連絡をお願い致します。
弊社代表の携帯番号：090-3233-1436
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